Главная | ЮФУ | Ссылки | Добавить новость | Контакты | Карта сайта


Физический факультет ЮФУ (Физфак РГУ)









в интернете















Технической физики

Физики космоса

Теор. и вычисл. физики

Общей физики

Прик. электродинамики и комп. моделирования

Физики наносистем и спектроскопии

Радиофизики

Квантовой радиофизики

Биофизики и биокибернетики

Нанотехнологии

Лаборатории

Семинар МИКРОФЛУОРЕСЦЕНТНАЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ 14.12.2016, 16 ч. физфак ауд. 012а



Опубликовано: 10 декабря 2016г.Translate to english  Версия для печати


МИКРОФЛУОРЕСЦЕНТНАЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
И ЭЛЕМЕНТНЫЙ АНАЛИЗ ВЕЩЕСТВА: СОВРЕМЕННЫЕ МЕТОДЫ И ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ.
(Семинар14.12 2016, 16 ч., физфак ауд. 012а)

Содержание.
1. ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ
2. РЕНТГЕНОВСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ И ЕЕ ПРИМЕНЕНИЕ
3. ЗНАКОМСТВО СО СПЕКТРОМЕТРОМ M4 TORNADO (BRUKER)

АННОТАЦИЯ
Наиболее важным для нас источником информации об окружающем мире является электромагнитное излучение. Видимый свет, рассеянный от окружающих предметов воспринимается непосредственно нашими глазами и дает визуальное представление о размере, форме и свойствах объектов. Другие виды излучения, например рентгеновское, не воспринимается непосредственно нашими органами чувств. Однако, уже больше 100 лет, с тех пор, как В.К. Рентген открыл этот вид излучения, мы можем его использовать, чтобы исследовать фундаментальные свойства электронов, атомов и молекул. Специально сконструированные приборы, называемые спектрометрами рентгеновского излучения, позволяют «заглянуть» внутрь вещества.
В настоящее время научная аппаратура позволяет фокусировать излучение и получать необходимую информацию о субмикронных областях вещества. Современные технологии созданиях новых материалов и наносистем, в том числе в области биологии и медицины, невозможны без определения элементного состава. Как известно, одним из наиболее информативных неразрушающих методов исследований является рентгеновская микрофлуоресцентная спектроскопия, которая при оснащении спектрометра энергодисперсионным рентгеновским детектором и поликапилярной линзой позволяет строить карты распределения химических элементов на поверхности образца, проводить локальный количественный элементный анализ по глубине исследуемых материалов. Рентгеноспектральный микрофлуоресцентный метод анализа дает возможность делать выводы о химическом составе вещества, поскольку все химические элементы имеют строго индивидуальный набор эмиссионных линий характеристического излучения. Метод основан на регистрации и анализе энергетических спектров характеристического рентгеновского излучения, возбуждаемого падающим на образец первичным рентгеновским излучением.

http://phys.rsu.ru/~mazurmik/Micro-Fluor_XRFA.pdf


« назад на главную наверх

« назад на главную наверх